產(chǎn)品資源
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品文檔：
XTDIC三維全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量分析系統(tǒng)
提供測(cè)量范圍內(nèi)的三維全場(chǎng)應(yīng)變變形及位移測(cè)量
產(chǎn)品特點(diǎn)
系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)
1、非接觸測(cè)量
2、直接測(cè)量全場(chǎng)應(yīng)變、位移、變形、形貌
3、相關(guān)圖像數(shù)據(jù)可反復(fù)分析處理，以實(shí)現(xiàn)不同研究目的，而無(wú)須重復(fù)試驗(yàn)，節(jié)約經(jīng)濟(jì)和時(shí)間成本
4、直接測(cè)量全場(chǎng)振幅、振動(dòng)信息
5、可用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
6、試驗(yàn)過(guò)程可追溯、可評(píng)估
產(chǎn)品介紹
新拓三維XTDIC采用高精度的數(shù)字圖像相關(guān)算法，為試驗(yàn)者提供非接觸式動(dòng)態(tài)全場(chǎng)三維應(yīng)變及位移測(cè)量。
DIC技術(shù)在室內(nèi)室外的普通環(huán)境均可使用，應(yīng)變測(cè)量范圍從0.005%-2000%以上，配合不同的圖像采集硬件，測(cè)量對(duì)象尺寸可以從幾mm2-幾十m2，更大測(cè)量幅面也可定制，理論上在此測(cè)量范圍內(nèi)只要能獲取高質(zhì)量圖像，即可進(jìn)行精確的應(yīng)變和變形測(cè)量。
XTDIC三維全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量分析系統(tǒng)可與雙目體顯微鏡技術(shù)結(jié)合，實(shí)現(xiàn)微小物體變形過(guò)程中表面的三維坐標(biāo)、位移場(chǎng)及應(yīng)變場(chǎng)的測(cè)量。
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